2009年全国射线数字成像与CT新技术研讨会在上海成功举办
2009年7月9日- 10日，由中国体视学学会CT理论与应用分会主办，GE（通用电气）传感与检测科技有限公司和上海英华检测科技有限公司承办的“2009年全国射线数字成像与CT新技术研讨会”，在位于上海浦东张江高科技园区的通用电气中国科技园成功举办。会议以“加强理论创新，推动工程应用，开创射线数字成像与CT技术的新篇章”为主题，吸引了来自中国科学院，中国工程物理研究院，国家数字交换系统工程技术研究中心，清华、北大、首都师范大学、北京航空航天大学等多所高校，以及企业等的逾90名专家和技术人员参会，包括中国体视学会CT理论与应用分会秘书长李兴东，GE检测科技应用中国应用中心总经理孔凡琴博士，德国应用中心经理Thomas Mayer博士等中外专家欢聚一堂，探讨新思想，交流新技术，并见证了GE传感与检测科技中国CT应用中心的开幕。
共有21新老学者在大会上做了专题报告或论文宣讲，内容涵盖射线数字成像与CT技术新理论、新仪器和新方法，线阵列/面阵列探测器成像质量评价的方法及应用研究，PET、相衬CT新技术与应用，射线数字图像处理新理论与新算法等等多方面，其中四个新的研究和应用课题引起了大家的兴趣和关注。
1. 基于高精度CT的测量学（GE检测科技）
2. 双能CT （清华大学）
3. 图像质量评估和研究 （北京航空航天大学）
4. 高分辨率CT用于材料检测（GE和中国公安部第一研究所）
最后，大会评选出“PET/CT新技术应用”（王荣福 ），“动态序列DR图像降噪算法及快速实现 ”（王钢，杨民），“基于对称投影的2D-CT系统投影旋转中心自动确定方法”（李保磊，张耀军 ），“内部感兴趣区域CT精确重建算法新进展”（李亮，陈志强等 ），“改进的单程分裂合并分割方法在双能CT欠采样方法中的应用”（刘圆圆，张丽等 ） ，“DR成像系统点扩展函数测量与图像恢复”（黄魁东，张定华等） 等6篇优秀论文。 在会议闭幕式上，与会人员热情称赞了本次会议技术交流的高水平和组织工作的高效率。全国政协委员，中国CT委员会创始人郭履灿老先生还即席赋诗一首，感谢GE公司对会议的支持，祝愿我国CT事业更大的发展。
本届会议的承办单位GE传感与检测科技公司是无损检测行业的世界知名企业，自2007年收购了工业CT界的翘楚的德国菲尼克斯 X射线公司（phoenix|x-ray）以来，一直大力支持工业CT的技术革新和应用发展。借本届大会召开之际，GE传感与检测科技公司大中华区的CT应用中心正式开业，从德国引进了nanotom, vtomex, nanomex等5套纳米微米高端CT设备，应用领域涉及到航空、航天、机械制造、测量、微生物、安防等领域。正如GE传感与检测科技公司中国应用中心总经理孔凡琴博士在开幕致词中所说，“（GE）努力创建一个开放式的沟通和交流平台，以创新性研究为先导，以工程应用为基础，为客户提供高端解决方案......并与中国的CT产业良性互动；欢迎中国CT领域的专家学者经常来GE中国CT应用中心做客，我们期待着与各位专家的更广泛的合作。”
