上海英华 > 无损检测行业动态 > 全国射线数字成像与CT新技术研讨会圆满落幕

全国射线数字成像与CT新技术研讨会圆满落幕

2009年全国射线数字成像与CT新技术研讨会于7月8日在上海通用电器中国研发中心顺利召开,来自中国体视学会的委员、国家科研单位专家及德国Phoenix | x-ray 代表,高校教授、学者近百余人参加此次会议。与会期间,各方代表就CT新技术理论及相关应用等课题举办了21场专题报告讲座。

本次会议由上海英华检测科技和通用电器传感与检测科技共同承办,并得到了包括中国体视学学会CT理论与应用分会、《CT理论与应用研究》编辑部、北京航空航天大学现代无损检测中心的大力支持,特邀国家计量科学研究院李兴东院士担任执行主席主持本次会议,同时应邀中国地震局地球物理研究所郭履灿研究员,清华大学陈志强教授、首都师范大学张朋教授作为特邀嘉宾参与本次研讨会。

  我司经理李博先生致开幕欢迎辞

本次会议主题为“加强理论创新,推动工程应用,开创射线数字成像与CT技术的新篇章”,在本次会议上上,国内外著名学者、专家共作学术报告21场;征集到学术和技术论文24篇,报告课题涉及微焦点&纳米焦点CT,PET/CT新技术应用,双能CT在安检方面的应用,X射线模拟软件及其应用,GPU集群加速CT图像重建,基于通用X光机源的硬X射线光栅暗场成像技术研究等,与会期间我司经理李博先生就“微焦点&纳米焦点CT的应用介绍”做出了专场报告。

 

 我司经理李博先生报告  微焦点&纳米焦点CT的应用介绍                               Phoenix | x-ray系统成像Thomas  Mayer Metrology technology based on CT

 清华大学陈志强教授 "双能CT在安检方面的应用"                            首都师范大学张朋教授   " 工业CT研究的一些进展"

北京大学 王崇福教授  "PET/CT新技术应用"

       

北京航空航天大学 杨民教授 "板壳构件数字层析方法研究"

本次会议为为期四天,会议宗旨是为相关领域的新老学者提供探讨新思想、交流新技术的讲台,为促进国内CT学术领域的科技创新和科技成果转化应用提供了交流平台,为推动国内无损检测新技术研发与高新技术领域应用奠定了坚实基础,同时本次研讨会我也为我司在学术领域内结识更多专家、学者提供了难得的机会      

 

      合影留念 

Posted @ 2009-7-18 0:19:28  阅读( 653)  评论( 0)  
最新更新
  • 近期无损检测会议与活动信息
  • 全国工业射线成像和CT应用技术研讨会通知(1)
  • 新书介绍——《工业CT技术和原理》作者:张朝宗 等
  • 2009年全国射线数字成像与CT新技术研讨会在上海成功举办
  • 全国射线数字成像与CT新技术研讨会圆满落幕

  • 最新评论
    输入验证码查看评论信息
    昵称 验证码
    <内容请勿超出2000个字,快捷键:Ctrl+Enter>
    公司名片
    上海英华检测科技有限公司
    所属行业:机械、电子设备批发业
    联系电话:021-51029225
    传真号码:021-51062328
    地址:上海市 浦东张江高科技园区达尔文路88号16楼302&303室 201203
    公司网址www.yinghua-ndt.com
    电子邮件info@yinghua-ndt.com
    经营范围:工业CT、X射线检测系统、微焦点及纳米焦点X射线机;工业CR系统;激光胶片扫描仪;工业洗片机;便携式DR平板探测器;超声波成像仪及探伤仪;涡流检测设备;工业内窥镜;工业硬度计等无损检测设备及系统。
    个人简介
    文章搜索
    日期控件
    聚合索引
    Copyright © 2008 版权所有:上海英华检测科技有限公司 沪ICP备09000373号
    电话:021-51029225   传真:021-51062328   邮件:info@yinghua-ndt.com
    地址:上海市  浦东张江高科技园区  达尔文路88号16楼 302&303室 邮编:201203
    上海英华src="http://wpa.qq.com/pa?p=1:1109161442:6"
    前台咨询

    上海英华
    工业CR,X射线,胶片扫描仪

    上海英华src="http://wpa.qq.com/pa?p=1:1206937388:6"
    GE韦林工业内窥镜

    上海英华
    GE超声涡流检测设备