160kV 纳米焦点工业CT(纳米CT) - nanotom® 荣获《2006全球科技奖》
芝加哥2006年10月16日 星期一

德国菲尼克斯X射线(phoenix|x-ray,凤凰X光)160kV纳米焦点工业CT(纳米CT)nanotom®被授予 “最佳检测/X射线类”《2006全球科技奖》。该大奖是在美国芝加哥举办的国际封装科技博览会期间由《全球SMT及封装》杂志颁发的。卓越的技术创新和使用方便性,使来自工业界和科研领域的专家评审组一致选择了nanotom®纳米焦点CT系统(纳米CT)为2006年该项大奖得主。
nanotom® 是世界上第一款纳米焦点(nanofocus®)工业CT(计算机层析成像)系统,广泛地应用于航空航天、军工、核能、汽车、石油、科研等行业中传感器、微型机械、电子电气、半导体、各类材料(如合成材料、陶瓷复合材料和岩芯样本等)的检测分析及生物科学应用领域。
这一极其紧凑的纳米工业CT系统配备了花岗岩平台、菲尼克斯160kV高功率纳米焦点X射线管、以及5兆像素超高分辨率数字平板探测器。探测器平移系统保证了尽可能高的放大倍率和分辨率。
nanotom®可检测直径达120毫米重量达1公斤的样品。符合人体工程学设计的防护门和可调整的样品夹持装置使得样品定位精确而简单。
nanotom®安装了菲尼克斯最新开发的CT软件datos|x。 该软件提供简易直观的图形操作界面,仅需基本培训即可操作使用。 该款高性能CT软件的图像采集和三维体积重建,在速度和图象质量等方面为工业CT设立了崭新的行业标准。当选用计算机组时,三维重建的速度还可进一步得到提高。
高分辨率工业计算机断层成像(工业CT)已经成为一种功能强大的检测工具,适用于工业检测和科学研究及几何测量等诸多场合,不仅可以无损检测样品结构和进行缺陷分析,而且可以保证或控制产品质量。采用180kV/15W超高性能的纳米焦点X射线管,高精度机械平台和先进的软件模块,nanotom®成为三维工业CT扫描和应用的最佳选择。一旦获得工业CT扫描结果,全三维工业CT体数据可以进行大量的后续分析处理,如切片无损可视化,任意断层图像显示或全自动孔洞分析。由于样品的所有几何信息都已被记录下来,因此可以进行复杂样品的三维几何测量,甚至在1个小时内可全自动生成检测报告。

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- 全世界第一款180kV/15W nanoCT®系统
- 5兆像素全数字图像链
- 低维护率、长寿命、开管、高功率纳米焦点X射线管
- 从纳米级到高功率应用四个操作模式
- 超高分辨率图像,体元分辨力可小于0.5微米
- 以大理石为基座的高精度机械操作平台,可选配热稳定系统
- 高精度转台控制模块,采用压力气体驱动
- 焦点到探测器距离可调
- 可检测的最大工件参数:直径120毫米,高度150毫米,重量2公斤
- 不到30分钟内即可便捷地更换阳极靶
- 精湛的软件模块组,从而可有效减少各种伪影…
- GPU高速三维图像重建
- 约1个小时之内即可全自动生成初检报告
- 结构紧凑,外形尺寸仅164cm×143cm×75cm,也可根据需要配置较大的防护室

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为什么选择纳米焦点CT ?
焦点越小工业CT系统的几何不清晰度越小,进而可提高图像的分辨率。采用独特的设计方法,nanotom®的焦点可达纳米级,可识别达200纳米的几何特征。由于采用高功率纳米焦点X射线管,nanotom®可以满足从低衰减系数的纳米级扫描到高衰减金属物质的高功率扫描。

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先进的CT软件
为了进一步优化高分辨三维体数据的质量,nanotom®包含了大量软件工具有效减少由不可避免的物理因素导致的伪影,如环状伪影、射束硬化或者旋转中心偏移等等。创造性的工具如全自动几何校正或感兴趣区域CT扫描等,保证了菲尼克斯(phoenix|x-ray)独有的三维重建软件datos|x操作的简洁性和便捷性。
三维超高精度几何测量
如果样品比较复杂,待测部位被隐藏或者不容易接触到,与传统的接触式测量或光学坐标测量仪(CMMs)相比,工业CT显示出了极大的优越性:高密度的测绘点及样品所有几何特征的快速捕捉。nanotom®包含了CT最高精度要求的所有特征:极小的焦点和体素大小、以大理石为基座的高精度机械平台和热稳定系统等,先进的软件极大地优化了CT重建质量,自动几何校正优化了表面提取精度。

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精度和适应性
德国菲尼克斯(phoenix|x-ray)根据VDI 2630标准对一个30mm大小的物体(定位误差±1.5微米),体素大小40微米进行检测,nanotom○R显示出直径测量误差PS<2微米时其距离偏差的标准差为一个小于±0.5微米的球。这两个参数根据德国计量院PTB设计和校准的特质圆盘决定。

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采用纳米级分辨率进行三维显微分析
高分辨率nanoCT®极大地扩大了显微结构的可检测性。nanotom®采集的图像不仅包含了结构信息,而且显示了内部物质的衰减特性。它们被用于体数据的重建。材料内部的任何不同、密度或孔洞均可被可视化,诸如距离或孔洞体积大小等数据均可被测量。因此,nanoCT®是样品无损检测,进行内部裂缝、层间分离、夹杂、机械装配或孔洞等分析的最佳工具。
nanoCT® - 最接近于同步辐射CT
在追求高分辨率图像的同时,nanoCT®的潜力、便捷性和经济性可与高成本、很难获得的同步辐射设备相抗衡。nanotom®是第一款180kV nanoCT®系统,由于其较小的占地面积,即使在很小的实验室亦可使用,是世界上各行业公司和科研院所的首选,可以满足各种场合的应用需求,如材料科学、微型工程、电子、生物、地质等等。
