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数字X射线实时成像系统相关检测标准

美国 ASME标准 相关章节

1ASME:第五卷 第2章 强制性附录II
  II-210 范围
    “射线实时成像可以被使用在包括铸件和焊接件材料中,在修改第2章的规定时,因为指示满足要求。在相应的章节中,因为指示为指定的参考,(ASMESE-1255将与该附录联合使用。SE-1416提供了附加的信息,即可以被用于焊缝射线检查。”
  II-210 一般要求
  “这种射线方法可以被应用在检查铁磁性和非铁磁性材料和焊缝”

2ASME:第五卷 第22 SE-1255
  4、意义和使用
  “作为一般的X射线,射线检查被广泛地应用到任何射线穿过的材料或试验对象,被检查的材料包括金属、塑料、陶瓷、合成材料及其它的非金属材料”
  6.1.3 探测系统
  “探测系统可以是一维设计,一次在一条线上提供部分信息,也可以为二维区域探测器,提供一个区域观察场”

3ASME:第五卷 第2章 强制性附录II
  II-230 设备及材料
  II-235 标定试块
  “…可以为一个真实的试验对象,也可以是制造的带有已知缺陷的模拟试样”
  II-236 标定线对测试样品和阶梯锲块
  “线对测试样品,将不使用传统的吸收评价系统清晰度,阶梯锲块将被作为评价系统的对比灵敏度”
  II-237 等效性能水平
  “系统展示的空间分辨率为 3线对/mm,薄的部件的相对灵敏度为3%,厚的部件相对灵敏度为2%,对于3线对/mm它们就具有等效性能水平。"该要求是使用胶片的射线密度的数字化评价。”
  II-260 标定
  “系统标定将在静态进行,通过线对试验试样精度、阶梯线对灵敏度和必须检测到标定块中的缺陷,以满足T-276(可能是胶片法射线照相部分)中IQI要求”
  II-263 系统性能测试
  “…系统的性能将在开始被检测,通过系统给出一致性的结果进行定期的性能监测。系统性能测试要求使用标定块、线对试样和阶梯锲块进行。”
  II-221 工艺要求
  “编写的程序要求至少包含下列内容(见SE-1255 5.2部分)”
  a)材料种类和厚度范围;
  b) 设备质量资质
  c) 试验对象的扫描平面图
  d) 射线参数
  e) 图像处理参数
  f) 图像显示参数
  g) 图像归档

4ASME:第五卷 第2章 强制性附录IV
  IV-220 一般要求
  “在数字图像显示在监视器(软显示),进行图像解释。解释包括密度和对比度调节、质量,像素测量包括数字或光学密度值和线性或区域测量。数字化图像的解释依赖于同一个受过培训的人员对射线或图像的主观评价。”

5ASME:第五卷 第2章 强制性附录II
  II-231 射线检查记录
  “射线检查将被记录和被存储在录像带、磁盘或光盘上。”

6ASME:第五卷 第2章 强制性附录IV
  IV-234 观察考虑
  “使用适当的发光度、显示技术和室内光线评价数字图像,以确保正确的观察细节。”

7ASME 22 SE-1255
  6.2.5 适当的环境状况的重要性
  “适当降低光线强度,对于提供高对比度、低眩光的射线检查图像,是非常重要的”

Posted @2007-7-8 10:24:18  阅读(2553)  评论(1)  
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