PerkinElmer公司推出用于全天候无损检测的新款高速X射线数字平板探测器
2008年10月23日中国上海消息
数字成像检测技术领域的全球技术领先企业PerkinElmer Optoelectronics公司（珀金埃尔默光电子公司）在上海展览中心举行的第17届世界无损检测大会暨展览会（17th WCNDT）上展示了其新款高速、高通量、数字X射线平板探测器。这是PerkinElmer公司首次在亚洲展示用于一系列工业和医疗应用的数字成像技术，其应用领域包括管道检测和医学成像诊疗。PerkinElmer公司一贯致力于为中国的环保基础设施和医疗提供支持，这些技术是其中必不可少的一环。
PerkinElmer公司新推出的非晶硅（a-Si）数字X射线平板探测器，其输出速度是之前设计方案的两倍，最高可达30 fps，同时该产品能保持业界一流的16位分辨率水平，并能生成实时的图像。这些平板探测器能够防辐射，可耐受全天候不间断生产线中要求苛刻的高能测试环境，因此非常适合于无损检测应用，如管道检验、金属铸件检验、复合材料检验、PCB测试和生产过程中的检测。
PerkinElmer公司数字成像业务总裁Brian Giambattista博士说，“PerkinElmer公司坚定致力于中国市场，能在这一重要的展会上展示我们为工业无损检测应用而新推出非晶矽硅数字X射线探测器，我们感到很振奋。能在关键的实时无损检测应用领域，如石油管道焊接检验、工业铸件检验以及为确保飞机更加安全而进行的无损检测等方面为中国出一点力，我们是很高兴的。利用本公司最新改进后的X射线数字平板探测器，客户能够高效地进行关键的实时检测，而且价格也非常划算。”
在本届世界无损检测大会上，PerkinElmer公司展示了其XRD N ES数字平板探测器新系列中的两款产品：
XRD 1621 N ES（“增速”）16英寸数字平板探测器，高能以30fps的速度生成实时图像，适合于辐射能在20 keV到15 MeV之间的情形。该型号数字平板探测器的像素大小为200微米，图像尺寸为2048×2048像素。
XRD 0820 N ES （“增速”）8英寸数字平板探测器，最高能以30fps的速度生成实时图像，适合于辐射能在20 keV到450 keV之间的情形。该型号数字平板探测器的像素大小为200微米，图像尺寸为1024×1024像素。可选项目之中包括一个有碳纤维罩子的探测器，它能够在较低的X射线能级下提供出色的图像质量。
PerkinElmer公司已经在全球交付了15,000多件非晶矽硅X射线探测器，用于一系列的工业无损检测应用以及X射线诊断摄影和癌症放疗等医学应用。凭借在德国Walluf建立的一流生产工厂和美国加州圣克拉拉新扩建的高水准晶圆工厂，PerkinElmer公司有能力满足不断扩大的全球市场的需求。
PerkinElmer公司（PerkinElmer, Inc.）提供环保、食品及消费产品测试仪器、诊断工具以及医学成像和工业成像技术，以助于增进中国民众的健康，进一步确保民众人身安全，并改善环境。PerkinElmer公司推动保健科学及光电技术市场的发展和创新以提高人们的生活质量，是该领域的全球技术领先企业。该公司2007年收入达18亿美元，拥有近9100名员工，为150多个国家的客户服务。该公司股票为标准普尔500指数成份股。如需了解更多信息，请访问： www.perkinelmer.com，或致电1-877-PKI-NYSE。
