HD-CR 43 NDT
——新型德尔高性能CR扫描系统,图象质量更清晰 ,尽显数字X射线成像的优势。

什么是CR技术?它是如何工作的?
计算机X射线成像技术(CR)提供的数字化结果和传统X光片的效果相当,同时它还具有显
著的特点——耗材的使用量和成像时间都大大的减少。
此外,这些数字图像能被轻易的存储并在使用者之间实现自由共享。有了各种图像软件,
我们开始注重简便的操作流程和图像优化功能,以提高图像的分析能力。
CR系统内置的擦除器能够擦除IP板中剩余数据,为下一次曝光做好准备。
为什么选择CR技术?
通常,CR技术被认为为是对传统胶片的数字化替换。对传统的X光片而言,不同的分辨率取决于胶片本身以及不同的曝光时间。
而对CR技术来说,分辨率不仅仅取决于IP板(传统胶片的替代品)本身,还包括扫描仪。
而且扫描仪的分辨率对最终的分辨率影响更大。
高清晰度CR
DüRR NDT是全世界首家研发出12.5μm激光焦点扫描仪的公司。通过采用相应的高分辨率磷材质的存储成像板,能够严格适用于EN 14784和ASTM 2446规定的各种设备。
高分辨率的成像板和高清晰度HD-CR系统组合的基本空间分辨率首次达到40μm,超过了其它同类系统。
HD-CR 43 NDT完全适用于焊缝检测和航天应用领域。
得益于产品的步进式自适应扫描模式,该设备适应所有有高分辨率要求的应用领域。
为什么CR技术诞生于DÜRR NDT?
DÜRR NDT承诺为客户提供根据市场需求而量身定做的产品。
通过对现有产品的不断优化以及开发新的解决方案,在不久的将来,DÜRR NDT将成为无损
检测行业的领头羊。
我们的产品经过了ISO 9001认证、BAM认证,同时对EN标准、ASTM标准兼容。
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为CR 43 NDT设计的图像平板暗盒 |
HD-CR 35 NDT 高度的移动性适用于任何场合。基础空间 |
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自动壁厚测量
通过使用选配的壁厚测量工具,能够简单的定义剩余的壁厚。
出于X射线投影技术的要求,测量工具会充分考虑到是否有人工校正数据的输入或者曝光参数是否被保存。

直方图均衡化
在直方图中对灰度级别的均衡化能够同时对不同密度的材料进行评估。
高对比度的滤波器
滤波器能够优化图像的对比度,但不会改变原始数据。

铸件检测
对于铸件检测,特定的滤波器是必须的。它能够正确的分辨出工件的外部边缘。
测量结果也能通过3D图像的方式显示出来。
定制的测量工具能够根据客户的要求进行适度改进。
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