赛福特RAYFLEX分析



查看大图 名称 :赛福特RAYFLEX分析
原产地 :GE检测科技
分类 :仪器仪表 - 试验机/无损检测仪器
关键字 :RAYFLEX分析 X射线分析 GE检测科技
系列 :GE检测科技—X射线分析 - Rayflex Software
描述

 

赛福特RAYFLEX分析

数据缩减

 

 

 

特点

  • 图形显示和实测图的比较；
  • 不同类型的自动或交互式背景校正；
  • Savitzky-Golay算法的滤波；
  • 亮度校正（极化，洛仑兹，吸收）；
  • 间歇地K 2脱模或Rachinger修正；
  • 用抛物线得到峰值与重心法得到中心方法同步；
  • 依靠内部或外部标准对峰值进行校正；
  • 近似Pseudo Voigt函数；
  • 峰值参数由用户进行设定；
  • 能输出不同的数据格式；
  • 通过宏语言，用EXCEL输出对工作的自动评价。

 

赛福特rayflex分析

索引/完善

 

特点

  • 单一或多重相粉末图表的索引以及晶格参数的细化；
  • 任何晶系或可能的晶系的组合；
  • 实测图和理论hkl一代的索引；
  • 考虑了分子量和可能的密度，以期获得更可靠的结果；
  • 多重解的快速检验。

 

赛福特rayflex分析

反射率曲线

 

 


 

特点

  • 建立在Parratt递推公式上的X光反射率曲线的拟合与仿真（在总外部反射的范围内）；
  • 薄膜的密度，厚度以及表面/分界面粗糙度的测定；
  • 测定大多数物质的密度和表面/分界面粗糙度；
  • 考虑分级接口；
  • 考虑实验光路；
  • 强大的拟合可能性，在4种不同例程间做出选择；
  • 考虑约束；
  • 薄膜厚度的简单互动测定。

 

 

赛福特rayflex分析

倒晶格空间图

 

 

 

 

特点

  • 倒空间图演示；
  • 在3种不同的坐标下进行映射；

- ， 2 （用 做单位）

- 倒易点阵坐标  、  （用1/nm做单位）

- 真米勒属性h，L（无量纲）

  • 二维和三维亮度表达；
  • 一维空间断面图。

 

赛福特rayflex分析

搜索/匹配

 

 

 

 

 

 

特点

  • 通过完全或部分PDF和/或用户文件进行定量相分析；
  • 用户可以选择展现的相位图的数量；
  • 快速获得完整PDF格式卡信息；
  • 可能通过输入化学信息对搜索进行约束（布尔组合）；
  • 考虑到仪器角度偏移；
  • 对工作名单自动搜索，并在宏语言下用EXCEL输出结果。

 

 

 

赛福特rayflex分析

应力

 

 

 

特点

 

用 方法测定残余应力（χ和 可能取值下），用椭圆及线性回归评价；

图解测量数据和 分布；

同步峰移测定的不同方法：

- 抛物线或Pseudo-Voigt拟合；

- 方法简单，平均或变化的重心；

- 互相关函数方法。

  • 由材料的数据，很容易获得常数值；
  • 确定应力（假设σ33=0或σ33=0可能的情况下）；
  • 借助宏语言，通过EXCEL输出，自动对工作任务进行评价。

 

 

 

赛福特rayflex分析

纹理

 

 

 

 


特点

  • 极图在二维或三维模式下进行演示；
  • 用等值线或等值面进行图形展示；
  • 很多用户可自主选择的图形功能；
  • 剪切极图可形成强度分布图或短片；
  • 数据校正的可能性（如：旋转，背景，散焦……）；
  • 在乌氏网或施密特网上进行投影；
  • 数据可以输出到ASCII文件中。


 

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