Parsize颗粒大小和微观应变测定



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型号 :赛福特Parsize
原产地 :GE检测科技
分类 :仪器仪表 - 试验机/无损检测仪器
关键字 :颗粒大小和微观应变测定 X射线分析 GE检测科技
系列 :GE检测科技—X射线分析 - Rayflex Software
描述

 

赛福特Parsize

颗粒大小和微观应变测定

 

特点

l         Warren Averbach分析

-为单个或多个原始数据峰

-为单个或多个解析的峰，这些峰值与不对称Pseudo Voigt函数相适应

l         仪器拓宽校正

-从原始数据得到的傅立叶系数建立斯托克斯方程

-解析峰和标准轮廓的卷积

l         从原始数据或适合的峰值上进行简单的积分广度分析

l         广泛的互动更正，丰富的显示工具栏

 

 

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