单晶定位和数据收集



查看大图 名称 :单晶定位和数据收集
原产地 :GE检测科技
分类 :仪器仪表 - 试验机/无损检测仪器
关键字 :单晶定位和数据收集 X射线分析 GE检测科技
系列 :GE检测科技—X射线分析 - Rayflex Software
描述

 

 

                                    赛福特Crysom

单晶定位和数据收集

 

特点

  •        狭缝和吸收体电机控制的自动使用；
  •      峰值搜索和相应格点的计算；
  •  量角器轴线零点的迭代调整；
  •  在方向计算后，使峰点回到中心位置；
  •   单元数量减少是建立在德洛内处理的基础上；
  •    在反射范围内，通过定期控制进行数据采集；
  •     在用户选定的晶体位面上表面衍射；
  •     检测两个晶体胞的各自峰值；
  •     对非整数hkl对应点进行准晶体测量。 

 

 

 

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