查看大图 名称 :衍射计系统 XRD 3003 TT
分类 :仪器仪表 - 试验机/无损检测仪器
系列 :GE检测科技—X射线分析 - X射线衍射计系统
衍射计系统XRD 3003 TT
MZ VI E在对称或不对称的θ结构
光学译码器直接安装在机械上能独立自由进行ω和θ驱动。
测角器能够承载起巨大的负载，它的原理为许多附件装置以及使用者自己的实验计划观念提供了充分的空间。
直径
标准系统是伴随着高稳态性质的X射线装备ID 3003 出现的，即通过电脑紧凑的电子面板以及射线软件整合到一起的带有底座的闪烁计数器。
附件不包含在基础系统结构中。
系统说明
安全柜 典型被批准的可完全保护机器
(§4 sec. 3 RöV, 认准证书编号 SH 87/02 Rö)
测角器
最大负荷 中心轴：5250牛
最小控制步长 0.0005度
重复性 ±0.0003度
最大的角度范围 Ω（侧管方）=0°—θ（侧视探测器）=165°
Ω（侧管）=165°—θ（侧视探测器）=0°
测量圆的半径
X射线装备ID 3003
输出量 2 - 60 kV, 2 - 80 mA, 最大3.5 kW
+-0.01%在主电压波动+-10%时
入射装置
应用 需求选择
样品表面的连续照射 自动分离裂缝
强度的动态范围 控制复杂射线的衰减器
平行光束 比拟层+长钢条（0.15度）
高速1 断路器模式
高速2 相位灵敏调解器PSD
顶端/背景，Kβ的抑制 球状石墨单色仪，次端侧面
顶端/背景，Kα2的抑制 聚焦单色仪锗或者二氧化硅，初级端侧面
样本固定器1 带有控制器的旋转样本固定器
样本固定器2 自动获得三坐标位置的样本固定器
样本转换器 带有控制器的12折叠样本转换器
阶段定性分析 Rayflex寻找/匹配PDF基础数据
阶段定量分析 Autoquan软件
结构分析1 Rayflex的索引或参考
结构分析2 Rietveld 精编程序BGMN
以ω方式的应力测量 Rayflex应力
以x方式的应力和结构测量 带有控制器的TSA-3，瞄准仪（可选Fox）
Rayflex应力， Rayflex结构
高/低温度测量法 温度室，推荐使用的平行光束机构
薄膜分析/掠入射/反射测量法 GID附件（扁平的单反射附件，Rayflex反射率
（若需要：比拟层或者锗电子切削晶体）
不同胶体系统的调查 小角度配置
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