X射线衍射计3003 PTS



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名称 :X射线衍射计3003 PTS
型号 :XRD 3003 PTS
原产地 :EG检测科技
分类 :仪器仪表 - 试验机/无损检测仪器
关键字 :X射线衍射计系统 射线检测 GE检测科技
系列 :GE检测科技—X射线分析 - X射线衍射计系统
描述

SEIFERT X射线衍射计3003 PTS

衍射计系统

 

研究材料时可进行相位,结构及薄膜成像分析

灵活性

 

用于材料研究的增强型X射线衍射系统必须能够处理全部组合零部件,因为用来分析的样品切槽处可能会改变材料的特性(例如受力状态)。即使是小的样品也需要有空间,因为许多应 用软件都需要专门的附件配置。有了X射线衍射计3003 PTS,你就有了最灵活的系统,可以处理很大很笨重的样品和配置。对于已下测量:

 

 

l         相位

形成样品的检晶仪相位的辨别(相位定性分析)和认证(相位定量分析,参与奥氏体)。

l         结构

首选的微晶体定位性的研究,定性和定量的结构分析。

l         受力

样品晶格变形的测定(MPa给出受力分析得结果)。

l         反射计

薄膜层的粗糙度,厚度(<400nm)和质量密度的测定。

增加倾斜特点

 

样本的倾斜性需要从不同的角度观察样本,例如压力和结构的研究。传统系统用的是欧拉式支架,限制了样品重量,空间,范围,精度及挠性。

X射线衍射计3003 PTS系统用已经被证明的TS-3测角器解决了这些复杂的质量问题。它的设计是世界上独一无二的。向着相反方向运动的坚固的控制杆臂给出了精确的x运动。电子控制器运用了最新的微型控制技术。带有光学译码器的步进电机在闭环模式下运转。这些特点确保了高精度,速度和稳定性。

安心使用

最适合的X射线光束依赖于样品,应用软件以及需要的精度。我们设计出来的XRD 3003 PTS 衍射计非常容易使用和调节。仅仅是小的操作,不需要重新排列就可以改变X射线光。样品队列由激光和CCD照相机照相。智能测量方法—即便是为临界样品形状—在软件中也可以执行。

运用XRD 3003 PTS 衍射计你可以:

l         处理可达5千克的笨重样品;

l         可以处理达220mm(100mm(深)的大的样品,甚至更大的带有根据实际样品参数确定的χ/φ限制的样品;

l         和市场上最灵活的系统一起工作,安装不同的附件装备;

l         高精密度、不限速旋转的工作。

l         X射线光束不变暗的从-90度运动到+90

 

高级测量

功能

对于受力分析来说,x角像大的正负位置运动的能力是最基本的(见左图)。只有χ两个方向上的测量数据,给出了样品的真正受力、质量以及样品队列的信息。只要不是以这种办法测量,谁都不能确定它的结果。随着x角从-90度运动到+90度,XRD 3003 PTS 衍射计会显示出样品全部真实的信息。

有效的运算

最后一句但不是最不重要的,即便是再好的测量方法,如果没有使用合适的软件也不起效用。我们提供了Rayflex软件,一个有效的计算工具,可以给我们相位,结构,受力分析以及反射的最佳结果。

技术说明

两个圆形测角器 MZ VI E

最小步长:                 0.0005度(可选0.0001度)

  重叠性:                 正负0.0003度(可选0.0001度)

    范围:                 -3° ≤ Ω ≤ 182° -3° ≤ Θ ≤ 169°

TS-3测角器

最大负载:                 5千克

样品和附件的最大空间       220mm() x 100mm(深)

倾斜轴x                

最小步长         0.0005

                                重叠性     正负0.0003

                                范围        -90° ≤ χ ≤ +90°

 

旋转轴φ:                                            最小步长        0.002

                             重叠性    正负0.001

                                  范围     360

转换轴Z                 

                          最小步长         0.001mm

                                 范围     25mm

X/Y平台:                 

                            最小步长         0.01mm

                                   范围     50mm×50mm

                                最大负载    2.5千克

 

公司及应用软件

 

很多年前在X射线衍射技术方面,美国通用技术公司以它的SEIFERT X射线分析解法代表了最高的竞争能力。起初Rich.Seifert公司成立于1982年,从那时X射线的发现到现在我们已经彻底的陷入了X射线技术中。世界上许多典型东西即将给你带来帮助。

美国通用技术公司的宗旨是正确的为消费者需要服务,实现消费者安全性和公司利润率的最佳化。进一步的研究发展显示,我们市场成功的基础是电子,机械工程,生产以及服务。为了寻找给人印象深刻的XRD系统的实证,可以参观在Ahrensburgz的科学化的应用软件实验室或者获取一个消费者的证明。

美国通用技术公司产品的卓越品质享誉全世界。SEIFERT X射线分析系统在研究发展中作材料描述,在学校,研究中心以及工业中用来质量保证。我们的生产线包括用来进行相位分析、结构和应力研究及高标准研究的X射线衍射系统,反射计和单晶体运算结构。另外可设计多种专用机器。我们的X射线应力分析器在自动行业中起着重要的作用,甚至适合大而笨重的加工零件的精确操作。在半导体和供给行业中,由于单晶体原料的方向性,我们的产品在生产线直接被生产完整。对于航空宇宙中的应用,单晶体硅的方向需要确定。对于这样的应用,系统需要运用劳厄反射技术以实时模式进行操作。

 

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