SEIFERT X射线衍射计
研究材料时可进行相位,结构及薄膜成像分析
灵活性
用于材料研究的增强型X射线衍射系统必须能够处理全部组合零部件,因为用来分析的样品切槽处可能会改变材料的特性(例如受力状态)。即使是小的样品也需要有空间,因为许多应
l 相位
形成样品的检晶仪相位的辨别(相位定性分析)和认证(相位定量分析,参与奥氏体)。
l 结构
首选的微晶体定位性的研究,定性和定量的结构分析。
l 受力
样品晶格变形的测定(MPa给出受力分析得结果)。
l 反射计
薄膜层的粗糙度,厚度(<400nm)和质量密度的测定。
增加倾斜特点
样本的倾斜性需要从不同的角度观察样本,例如压力和结构的研究。传统系统用的是欧拉式支架,限制了样品重量,空间,范围,精度及挠性。
X射线衍射计
安心使用
最适合的X射线光束依赖于样品,应用软件以及需要的精度。我们设计出来的XRD
l 可以处理达
l 和市场上最灵活的系统一起工作,安装不同的附件装备;
l 高精密度、不限速旋转的工作。
l X射线光束不变暗的从-90度运动到+90度。
高级测量
功能
对于受力分析来说,x角像大的正负位置运动的能力是最基本的(见左图)。只有χ两个方向上的测量数据,给出了样品的真正受力、质量以及样品队列的信息。只要不是以这种办法测量,谁都不能确定它的结果。随着x角从-90度运动到+90度,XRD
有效的运算
最后一句但不是最不重要的,即便是再好的测量方法,如果没有使用合适的软件也不起效用。我们提供了Rayflex软件,一个有效的计算工具,可以给我们相位,结构,受力分析以及反射的最佳结果。
技术说明
两个圆形测角器 MZ VI E
最小步长: 0.0005度(可选0.0001度)
重叠性: 正负0.0003度(可选0.0001度)
范围: -3° ≤ Ω ≤ 182° 且 -3° ≤ Θ ≤ 169°
TS-3测角器
最大负载:
样品和附件的最大空间
倾斜轴x:
最小步长 0.0005度
重叠性 正负0.0003度
范围 -90° ≤ χ ≤ +90°
旋转轴φ: 最小步长 0.002度
重叠性 正负0.001度
范围 360度
转换轴Z:
最小步长
范围
X/Y平台:
最小步长
范围
最大负载 2.5千克
公司及应用软件
很多年前在X射线衍射技术方面,美国通用技术公司以它的SEIFERT X射线分析解法代表了最高的竞争能力。起初Rich.Seifert公司成立于1982年,从那时X射线的发现到现在我们已经彻底的陷入了X射线技术中。世界上许多典型东西即将给你带来帮助。
美国通用技术公司的宗旨是正确的为消费者需要服务,实现消费者安全性和公司利润率的最佳化。进一步的研究发展显示,我们市场成功的基础是电子,机械工程,生产以及服务。为了寻找给人印象深刻的XRD系统的实证,可以参观在Ahrensburgz的科学化的应用软件实验室或者获取一个消费者的证明。
美国通用技术公司产品的卓越品质享誉全世界。SEIFERT X射线分析系统在研究发展中作材料描述,在学校,研究中心以及工业中用来质量保证。我们的生产线包括用来进行相位分析、结构和应力研究及高标准研究的X射线衍射系统,反射计和单晶体运算结构。另外可设计多种专用机器。我们的X射线应力分析器在自动行业中起着重要的作用,甚至适合大而笨重的加工零件的精确操作。在半导体和供给行业中,由于单晶体原料的方向性,我们的产品在生产线直接被生产完整。对于航空宇宙中的应用,单晶体硅的方向需要确定。对于这样的应用,系统需要运用劳厄反射技术以实时模式进行操作。
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