X-射线衍射系统3003
单晶体Laue定向法
在单晶样品中基于背反射Laue方法的方向
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l 柜门上安有大的玻璃,便于实验观察;
l 旋转台上的操作杆,可便于实现控制;
l Windows操作系统的电脑,用于测量、计算软件;
l 通过5轴,实现测量系统定义的位置;
l 用于承载反射劳厄图像的200 x
l 由激光测量自动间隔;
l 带有叉丝覆盖的照相机,拍照样本被选择的测量点;
l 样本固定架,支持大尺寸、无限重的物体。
l 覆有测量点的样本照片;
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l 操作系统上用户选择的展示图;
l 输出窗口输出的方位角;
l 全部测量、计算步骤的核查;
l 根据一定的分级标准,自动赋值系列样品的实际测量和理论计算。
系统程序桌面
l 在劳厄图像中自动搜索出污点并且相互修正;
l 从搜索出的劳厄图像污点自动定义方位;
l 从已经有的解决办法上看,理论上可以计算出劳厄污点;
l 劳厄图样上带有圆点记号的解决方案覆盖图。
自动赋值清单
劳厄图样中搜索出的污点
计算区域的覆盖图
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