![]() |
microme|x 微焦点X光检测系统 型号 :microme|x 系列 :GE检测科技-微焦点X射线系统 - 半导体和封装 分类 :试验机/无损检测仪器 原产地 :德国 |
![]() |
pcba|analyser X光检测系统 型号 :pcba|analyser 系列 :GE检测科技-微焦点X射线系统 - 半导体和封装 分类 :试验机/无损检测仪器 原产地 :德国 |
![]() |
pcba|inspector 微焦点X光检测系统 型号 :pcba|inspector 系列 :GE检测科技-微焦点X射线系统 - 半导体和封装 分类 :试验机/无损检测仪器 原产地 :德国 |
![]() |
nanome|x 纳米焦点检测X射线系统 型号 :nanome|x 系列 :GE检测科技-微焦点X射线系统 - 半导体和封装 分类 :试验机/无损检测仪器 原产地 :德国 |
![]() |
bench|mate 台式微焦点X射线系统 型号 :bench|mate 系列 :GE检测科技-微焦点X射线系统 - 半导体和封装 分类 :试验机/无损检测仪器 原产地 :德国 |