查看大图 名称 :v|tome|x s 微焦点工业CT
分类 :仪器仪表 - 试验机/无损检测仪器
v|tome|x s 计算机层析成像（CT）系统
——v|tome|x s是一款超高分辨率微焦点X射线工业CT，装备特殊的图像采集和处理软件，用于对较大型铸件，焊接件，机械电子装置等等进行计算机层析成像。
技术参数
CT性能
三维重建/图象采集软件 datos|x
采集时间 5钟采集500个投影
重建时间 重建时间从3分钟到1小时，根据体元分辨率大小有所不同
算法 优化的滤波反投影重建算法（Feldkamp算法）
三维体元分辨率 4μm（100X）到 240μm （1.66X）
最大几何放大（2D） 180X
最大几何放大（3D） 1.44X 到 100X
X射线管
类型 开放式，定向，锥角25°，水冷
最大管电压/功率 225kV / 320W
焦点尺寸 3μm
靶材 钨
检测平台
X轴 -150mm 到 +150mm (300mm/12″)
Y轴 -300mm 到 +105mm (405mm/16″)
Z轴（放大轴） 0 到 475mm (475mm/18.5″)
焦点探测器距离 800 mm /31.5″
倾斜轴 ±45°在2D模式下 (CT模式下锁定在0o)
旋转轴 n×360°
试件最大重量 10KG
焦点到试件最小距离 4.5mm，CT模式下10mm
平板探测器
高对比度平板探测器 数字非晶硅阵列，Lanex闪烁层
有效面积 204.8mm×204.8mm，512×512象素
分辨率 400μm×400μm (可选200μm×200μm）
帧频 30帧/秒
灰度梯度 65,536（16位）
系统尺寸
尺寸（W x H x D） 1950mm×1480mm×1380(1930)mm
重量 2600 KG/225kV；2300KG/160kV
选配
X射线源
ADRS 实际剂量率控制 通过监测发射的实时剂量，把计量率控制稳定在0.5％以内
高能量模式 能量可调整到超过最大负载，以达到更高的穿透力，但使用寿命将因此缩短
X射线管 160kV/320W，定向式，锥角25°，钨靶
160kV/20W，发射式，钨靶
平板探测器
分辨率升级 高对比度平板探测器，像素1024×1024
增加探测器尺寸 增加额外的探测器移动轴
其它各类探测器 按照客户要求可加装各种不同型号的平板探测器
CT能力
三维重建速度 datos|x 可在计算机组上运行，以加快重建速度
软件
可视化软件 VGStudio Max
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所属行业：机械、电子设备批发业
联系电话：021-51029225
传真号码：021-51062328
地址：上海市 浦东张江高科技园区达尔文路88号16楼302&303室 201203
公司网址：www.yinghua-ndt.com
电子邮件：info@yinghua-ndt.com
经营范围：工业CT、X射线检测系统、微焦点及纳米焦点X射线机；工业CR系统；激光胶片扫描仪；工业洗片机；便携式DR平板探测器；超声波成像仪及探伤仪；涡流检测设备；工业内窥镜；工业硬度计等无损检测设备及系统。
电话：021-51029225 传真：021-51062328 邮件：info@yinghua-ndt.com
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